Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение
Автор: Джи Лиу
Дата написания: 2006
Издательство: Лаборатория знаний
ISBN: 978-5-00101-478-2
Цена: 1100.00 Руб.
заказать | скачать | читать
В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в области нанотехнологий, посвященные растровой электронной микроскопии (РЭМ). С помощью РЭМ можно изучать свойства наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Книга предназначена для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но будет полезна также студентам вузов и разработчикам новых типов растровых электронных микроскопов.
Гениальная мысль: Говорят, что когда выходит новая книга, самое время перечитать старую. Как автор я не советовал бы следовать этому правилу неукоснительно.
Отличная шутка: — Тебя вообще что-нибудь интересует, кроме денег? — Да. — Что? — Где они.
Как получить каталог
Посмотреть на сайте
Смотреть наш актуальный каталог можно прямо на сайте, но для заказа рекомендуем скачивать его в формате Excel и уточнять все детали по электронной почте...
Скачать в формате Excel
Нажмите, чтобы скачать: файл в формате Excel, размером 869888 байт, обновленная версия от 10 May 2021 23:01.
Получить по электронной почте
Запрос на каталог, заказы и любые вопросы присылайте в любое время по адресу dvdomdv@mail.ru.
