Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light



Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Автор: Philippe Pougnet
Дата написания:
Издательство: John Wiley & Sons Limited
ISBN: 9781119329657
Цена: 11558.99 Руб.
заказать | скачать | читать

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale.

Гениальная мысль: Жили два закадычных друга, любивших выпить, за что, естественно, каждому доставалось от жены. И договорились они называть водку "книгой", а пиво "журналом". И стали их разговоры выглядеть так: - Я книгу купил, приходи, почитаем! - А я журнал. Приносить? А однажды звонит один другому и говорит: - Приезжай скорее, тесть рукопись принес...

Отличная шутка: Хочу отрывной календарь, у которого вместо листочков будут пятитысячные купюры! Утром встаешь, отрываешь одну и, понеслась душа в рай.

Как получить каталог

  • Посмотреть на сайте

    Смотреть наш актуальный каталог можно прямо на сайте, но для заказа рекомендуем скачивать его в формате Excel и уточнять все детали по электронной почте...

  • Скачать в формате Excel

    Нажмите, чтобы скачать: файл в формате Excel, размером 869888 байт, обновленная версия от 10 May 2021 23:01.

  • Получить по электронной почте

    Запрос на каталог, заказы и любые вопросы присылайте в любое время по адресу dvdomdv@mail.ru.

что почитать

Новые книги!