Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
Автор: Владимир Бублик
Дата написания: 2006
Издательство: МИСиС
ISBN:
Цена: 392.00 Руб.
заказать | скачать | читать
В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций.
Гениальная мысль:
Отличная шутка: — Я вот не плачу за холодную воду! Из принципа! — Из какого? — Ну во-первых постоянно нет денег на это… — Ну, с таким "во-первых" во-вторых уже неважно.
Как получить каталог
Посмотреть на сайте
Смотреть наш актуальный каталог можно прямо на сайте, но для заказа рекомендуем скачивать его в формате Excel и уточнять все детали по электронной почте...
Скачать в формате Excel
Нажмите, чтобы скачать: файл в формате Excel, размером 869888 байт, обновленная версия от 10 May 2021 23:01.
Получить по электронной почте
Запрос на каталог, заказы и любые вопросы присылайте в любое время по адресу dvdomdv@mail.ru.
